| Fronzek, S.; Pirttioja, N.; Carter, T.R.; Bindi, M.; Hoffmann, H.; Palosuo, T.; Ruiz-Ramos, M.; Tao, F.; Trnka, M.; Acutis, M.; Asseng, S.; Baranowski, P.; Basso, B.; Bodin, P.; Buis, S.; Cammarano, D.; Deligios, P.; Destain, M.-F.; Dumont, B.; Ewert, F.; Ferrise, R.; Francois, L.; Gaiser, T.; Hlavinka, P.; Jacquemin, I.; Kersebaum, K.C.; Kollas, C.; Krzyszczaki, J.; Lorite, I.J.; Minet, J.; Ines Minguez, M.; Montesino, M.; Moriondo, M.; Mueller, C.; Nendel, C.; Ozturk, I.; Perego, A.; Rodriguez, A.; Ruane, A.C.; Ruget, F.; Sanna, M.; Semenov, M.A.; Slawinski, C.; Stratonovitch, P.; Supit, I.; Waha, K.; Wang, E.; Wu, L.; Zhao, Z.; Rotter, R.P. |
Classifying multi-model wheat yield impact response surfaces showing sensitivity to temperature and precipitation change |
2018 |
Agricultural Systems |
159 |
209-224 |
